客戶咨詢熱線：
15270896115
| 項目 | 參數(shù) | 備注 |
|---|---|---|
| 核心器件 | 高輸出型 850nm SLD（超發(fā)光二極管） | 兼具高輸出與低相干性 |
| 中心波長 | 850nm±20nm | 適配 850nm 主流光互連場景 |
| 輸出功率 | 約 2mW（APC - SM 光纖端） | 滿足高靈敏度測量需求 |
| 光譜寬度 | 半峰全寬約 30nm（典型值） | 寬光譜適配多維度檢測 |
| 功率穩(wěn)定性 | 1 小時內(nèi)≤0.5%，12 小時內(nèi)≤2%（老化后） | 元件溫控 + APC 電路保障長期穩(wěn)定 |
| 光學(xué)接口 | FC/APC（單模光纖） | 適配主流測試系統(tǒng)，低回?fù)p設(shè)計 |
| 工作模式 | 連續(xù)波（CW） | 支持長時間不間斷測量 |
| 核心優(yōu)勢 | 低相干性、高穩(wěn)定性、寬波段輸出 | 有效抑制反射干擾，適配精密測量 |
低相干抗干擾設(shè)計：SLD 的低相干特性大幅降低測量中反射光干擾，尤其適合光纖對準(zhǔn)損耗、聚合物波導(dǎo)插入損耗等易受反射影響的場景。
高精度穩(wěn)控系統(tǒng)：集成元件級溫度控制與自動功率控制（APC），在環(huán)境波動下仍能維持功率與波長穩(wěn)定，滿足工業(yè)長期在線測試與科研高精度實驗需求。
寬光譜適配性：30nm 典型半峰全寬覆蓋 850nm 波段關(guān)鍵譜段，適配近場光斑（NFP）、遠(yuǎn)場光斑（FFP）等空間特性測量，以及多模光纖 / 波導(dǎo)的帶寬評估。
高兼容性接口：FC/APC 單模光纖輸出，可直接對接光功率計、光譜儀、光器件測試平臺，適配自動化測試系統(tǒng)集成。
聚合物光布線波導(dǎo)插入損耗測量：低相干性規(guī)避波導(dǎo)端面反射誤差，寬光譜適配不同波導(dǎo)結(jié)構(gòu)的損耗評估，助力車載、數(shù)據(jù)中心光互連鏈路驗證。
光纖對準(zhǔn)與耦合損耗測試：低反射干擾特性提升對準(zhǔn)精度，適配多芯光纖、陣列波導(dǎo)等高精度耦合場景，保障光模塊封裝良率。
NFP/FFP 測量：寬光譜輸出配合光斑分析系統(tǒng)，實現(xiàn)光器件近場、遠(yuǎn)場光斑分布與發(fā)散角測量，用于光模塊、光纖連接器的質(zhì)量管控。
多模光纖帶寬與損耗評估：850nm 波長匹配多模光纖通信窗口，寬光譜可模擬實際傳輸光源，用于光纖鏈路的一致性測試。
光探測器響應(yīng)度標(biāo)定：穩(wěn)定輸出與寬光譜適配光電探測器的光譜響應(yīng)測試，為探測器研發(fā)與生產(chǎn)提供標(biāo)準(zhǔn)光源。
無源光器件（耦合器、分路器）插損 / 回?fù)p測試：低相干性降低測試系統(tǒng)的串?dāng)_，提升插損測量精度至 0.01dB 級別。
光學(xué)相干斷層掃描（OCT）：低相干光源適配生物組織、材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)成像，850nm 波段在淺表層成像中兼顧穿透性與分辨率。
光纖傳感系統(tǒng)：寬光譜輸出可提升分布式傳感（如 OTDR 改進(jìn)型）的空間分辨率，適配結(jié)構(gòu)健康監(jiān)測、溫度 / 應(yīng)變傳感等場景。
光譜分析輔助光源：用于近紅外光譜儀的校準(zhǔn)，或作為寬波段激發(fā)光源，適配材料光學(xué)特性研究。
相比 LD 光源：SLD 低相干性規(guī)避反射干擾，寬光譜適配多參數(shù)測量，適合復(fù)雜鏈路測試。
相比 LED 光源：輸出功率更高（約 2mW vs 百 μW 級），穩(wěn)定性更優(yōu)，適配高精度測量。
相比同波段 SLD 光源：溫控與 APC 協(xié)同設(shè)計，12 小時穩(wěn)定性≤2%，滿足工業(yè)級長期測試需求。
場景匹配：優(yōu)先用于 850nm 光互連測量、光器件高精度測試、低反射干擾需求的場景；若需更高功率（如＞5mW），可考慮定制化模塊。
系統(tǒng)集成：搭配光功率計、光譜儀時，選用 FC/APC 接口適配，減少回?fù)p影響；建議預(yù)熱 1 小時后進(jìn)行精密測量，保障數(shù)據(jù)穩(wěn)定性。
維護(hù)要點：避免長時間空載輸出，定期清潔光纖端面，防止灰塵導(dǎo)致的功率波動與器件損傷。
