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| 參數項 | 技術指標 | 說明 |
|---|---|---|
| 測量范圍 | 放射率 ε=0.00～1.00 | 覆蓋幾乎所有固體材料 |
| 測量波長 | 2～22 μm | 遠紅外波段，適配常溫材料輻射特性 |
| 測量精度 | ±0.01 以內 | 工業級高精度，可分辨表面處理細微差異 |
| 測量方式 | 恒溫紅外反射能量檢測法 | 不加熱樣品，10～40℃室溫直接測 |
| 測量面積 / 距離 | Φ15 mm / 12 mm（固定） | 探頭腳柱限位，重復性好 |
| 響應時間 | 約 0.1 sec（0～63%） | 快速讀數，適合批量檢測 |
| 顯示 / 輸出 | LED 數字顯示；0～0.1V、0～1V 模擬輸出 | 可直讀或接記錄儀 / PLC |
| 使用環境 | 溫度 10～45℃；濕度 35～85% RH（無結露） | 實驗室 / 產線通用 |
| 電源 / 功耗 | AC100～240V，50/60Hz，30W | 寬電壓適配全球 |
| 尺寸 / 重量 | 探頭：Φ51×137 mm，0.6 kg；主機：156×306×230 mm，5.0 kg | 分體式，便攜易用 |
| 標準附件 | 放射率基準片（ε=0.06 鏡面、0.97 黑體）、收納箱、3m 電纜 | 出廠即配校準件 |
內置恒溫紅外源（黑體爐）發射 2～22μm 遠紅外，均勻照射樣品表面；
樣品反射的紅外能量被高靈敏度紅外探測器接收；
儀器通過反射率 r換算：ε=1−r，直接計算并顯示放射率；
每次測量前用ε=0.06/0.97 標準片校準，消除漂移，保證精度。
常溫無損測量：無需加熱 / 破壞樣品，室溫 10～40℃直接測，適合 delicate 樣品與在線檢測。
高精度 + 高重復性：±0.01 精度，可區分噴涂、陽極氧化、鍍膜等表面處理的微小差異，數據可用于仿真與設計。
操作極簡：一鍵校準、一鍵測量，數秒出結果，無需專業技能，產線工人也能快速上手。
穩定性強：雙標準片校準，長期漂移小；分體式探頭適合狹小空間或自動化工位（可配機器人電纜）。
適配廣：金屬、陶瓷、塑料、涂層、薄膜、石墨、碳纖維等幾乎所有固體材料均可測量。
半導體：晶圓薄膜（SiN、SiO?、低 k 介質）、封裝基板、散熱蓋板、熱界面材料的發射率測量，優化熱處理溫度均勻性與散熱設計。
航空航天：衛星 / 航天器表面涂層、隔熱材料、結構件的發射率測試，保障熱控系統可靠。
能源與冶金：鍋爐 / 換熱器管道、保溫材料、高溫設備表面涂層的發射率評估，提升散熱 / 隔熱效率、節能降耗。
汽車工業：車燈反光杯、內飾件、電池包殼體、散熱涂層的發射率檢測，保障熱管理與光學性能。
科研與質檢：高校 / 研究所材料研發、表面工藝質控、來料檢驗、失效分析，數據可直接用于論文與報告。
僅限固體表面：不適用于液體、粉末、多孔材料（表面不平整會導致反射散射，誤差增大）。
波長特定（2～22μm）：測量結果為該波段的法向 - 半球發射率，與紅外測溫儀常用的窄帶發射率不可直接混用。
樣品溫度需穩定：樣品溫度波動 >±2℃時，建議靜置至恒溫后再測，避免溫度漂移影響精度。
表面清潔度要求高：油污、灰塵、指紋會顯著改變發射率，測量前需用無水乙醇清潔并干燥。
vs 傳統高溫法：無需加熱（傳統需加熱到 80～100℃），無損、安全、節能、速度快。
vs 便攜式紅外測溫儀（帶發射率設定）：測溫儀不能直接測發射率，只能查表或估算；TSS-5X-3 是專用測量儀器，精度高、數據可靠。
vs 其他品牌（如德國、美國）：TSS-5X-3價格更優、操作更簡單、亞洲售后更完善，精度與穩定性處于一線水平。
