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日本NCC異物缺陷檢查燈ZEUS 為什么灰塵和異物造成的缺陷沒有減少？這是因為10μm到100μm的灰塵、污垢和被稱為“粗顆粒”的異物受到重力的影響，在制造現場的各處（墻壁、地板、工作臺、產品表面）積聚。
更新日期：2024-03-25 訪問量：1286
日本NCC室內灰塵檢查燈ZEUS 為什么灰塵和異物造成的缺陷沒有減少？這是因為10μm到100μm的灰塵、污垢和被稱為“粗顆粒”的異物受到重力的影響，在制造現場的各處（墻壁、地板、工作臺、產品表面）積聚。
更新日期：2024-03-25 訪問量：1378
union組裝電池晶體管焊接電源UDT-A80T 控制速度快，極性切換功能可實現穩定的精密焊接，且飛濺少。 適應工作： 焊接要求很高的電子零件，例如電池，電池引線板，細線，鍍層，不同厚度的材料，金屬箔，繼電器，鹵素燈，斷路器，連接器等。
更新日期：2024-03-25 訪問量：1700
union電動自行車晶體管焊接電源UDT-A80T 控制速度快，極性切換功能可實現穩定的精密焊接，且飛濺少。 適應工作： 焊接要求很高的電子零件，例如電池，電池引線板，細線，鍍層，不同厚度的材料，金屬箔，繼電器，鹵素燈，斷路器，連接器等。
更新日期：2024-03-25 訪問量：1823
union便攜式電源晶體管焊接電源UDT-A80T 控制速度快，極性切換功能可實現穩定的精密焊接，且飛濺少。 適應工作： 焊接要求很高的電子零件，例如電池，電池引線板，細線，鍍層，不同厚度的材料，金屬箔，繼電器，鹵素燈，斷路器，連接器等。
更新日期：2024-03-25 訪問量：1778
union高壓汽車晶體管焊接電源UDT-A80T 控制速度快，極性切換功能可實現穩定的精密焊接，且飛濺少。 適應工作： 焊接要求很高的電子零件，例如電池，電池引線板，細線，鍍層，不同厚度的材料，金屬箔，繼電器，鹵素燈，斷路器，連接器等。
更新日期：2024-03-25 訪問量：1843
union電動汽車晶體管焊接電源UDT-A80T 控制速度快，極性切換功能可實現穩定的精密焊接，且飛濺少。 適應工作： 焊接要求很高的電子零件，例如電池，電池引線板，細線，鍍層，不同厚度的材料，金屬箔，繼電器，鹵素燈，斷路器，連接器等。
更新日期：2024-03-25 訪問量：1763
union電動工具晶體管焊接電源UDT-A80T 控制速度快，極性切換功能可實現穩定的精密焊接，且飛濺少。 適應工作： 焊接要求很高的電子零件，例如電池，電池引線板，細線，鍍層，不同厚度的材料，金屬箔，繼電器，鹵素燈，斷路器，連接器等。
更新日期：2024-03-25 訪問量：1740
seiwaopt硅晶片背面圖案光源檢測SIS-150 光學測量儀
seiwaopt硅晶片背面圖案光源檢測SIS-150 它非常適合無損檢測，例如硅晶片的內部檢查和背面圖案的觀察。
更新日期：2024-03-25 訪問量：1834
日本seiwaopt硅晶片內部檢查光源SIS-150 光學測量儀
日本seiwaopt硅晶片內部檢查光源SIS-150 它非常適合無損檢測，例如硅晶片的內部檢查和背面圖案的觀察。
更新日期：2024-03-25 訪問量：1846
日本seiwaopt非破壞性檢查光源SIS-150 光學測量儀
日本seiwaopt非破壞性檢查光源SIS-150 它非常適合無損檢測，例如硅晶片的內部檢查和背面圖案的觀察。
更新日期：2024-03-25 訪問量：1712
日本seiwaopt近紅外光纖光源裝置SIS-150 光學測量儀
日本seiwaopt近紅外光纖光源裝置SIS-150 它非常適合無損檢測，例如硅晶片的內部檢查和背面圖案的觀察。
更新日期：2024-03-25 訪問量：1781
日本seiwaopt近紅外線照射裝置SIS-150 光學測量儀
日本seiwaopt近紅外線照射裝置SIS-150 它非常適合無損檢測，例如硅晶片的內部檢查和背面圖案的觀察。
更新日期：2024-03-25 訪問量：1652
圖像處理鹵素光源FA-100C/FA-150EN 光學測量儀
圖像處理鹵素光源FA-100C/FA-150EN 過濾器底座規格 F20 系列過濾器可以從纖維出口插入和移除。 型號：FA-100C-K 型號：FA-150EN-K
更新日期：2024-03-25 訪問量：1729
seiwaopt鹵素光纖光源FA-100C/FA-150EN 光學測量儀
seiwaopt鹵素光纖光源FA-100C/FA-150EN 過濾器底座規格 F20 系列過濾器可以從纖維出口插入和移除。 型號：FA-100C-K 型號：FA-150EN-K
更新日期：2024-03-25 訪問量：1837
